单片机工程师经常按自己的经验和认知搭建系统硬件然后编写软件，功能调通和测试无异常就认为项目完成了。很少会是测量VDD实际情况做可靠性分析，VDD上电、掉电时比较容易产生可靠性问题。
如上图所示，当VDD下电很慢且VDD在下降过程中反复提升/下降时，MCU有可能会产生反复复位和重启现象，如上图黄色波形所示，NRST因PDR产生拉低，而后又因VDD回升到POR点NRST又被拉高。这种场景容易产生可靠性问题。比如程序中存在对FLASH擦写功能时，如果在擦写操作未完成时产生PDR复位，有可能擦写不完整或其它不可预知风险（如误擦写了程序区）；另外就是如果VDD电压在2V左右上下反复波动，芯片就会在低供电情况下反复复位和重启，操作FLASH也是有风险的。其它控制上的风险，大家也可以想想会带来哪些风险。
解决方法分硬件和软件。硬件法当然是改良自己的掉电曲线了；软件法就是main函数进来后先不做风险的操作（如FLASH擦写），避开掉电曲线中波动不定的这个时间阶段。
